Fluorescenza a Raggi X – XRF

IMG-20230601-WA0005

Descrizione

L’indagine XRF permette la caratterizzazione del materiale attraverso l’analisi delle radiazioni X caratteristiche emesse dalla superficie analizzata in seguito all’interazione con un fascio di raggi X incidenti. L’informazione che si ottiene proviene dagli strati più superficiali del campione, cioè da quelli che la radiazione caratteristica secondaria riesce ad attraversare. Molto utile per indagare i contaminati metalli (Mercurio, Cromo, Piombo, Rame, ecc.) restituisce il dato in appena 30 secondi. Non sostituisce completamente le indagini tradizionali di laboratorio, ma permette di controllare innumerevoli punti potenzialmente contaminati in brevissimo tempo, con un notevole risparmio economico.

Altri strumenti

IMG-20240124-WA0013

Martello di Schmidt

20200115_101938

Kit d’intervento d’emergenza: geologico, geotecnico ed idrogeologico

IMG_20170112_133122

Tenuta serbatoi

20200204_104750

Kit Pronto Intervento Ambientale

Join Us

Vuoi far parte della nostra squadra?

Per garantire i migliori servizi ai nostri clienti, siamo sempre alla ricerca di professionisti per collaborazioni ed attività sul territorio nazionale.

Richiedi una consulenza

Consulenza