L’indagine XRF permette la caratterizzazione del materiale attraverso l’analisi delle radiazioni X caratteristiche emesse dalla superficie analizzata in seguito all’interazione con un fascio di raggi X incidenti.
L’informazione che si ottiene proviene dagli strati più superficiali del campione, cioè da quelli che la radiazione caratteristica secondaria riesce ad attraversare. Molto utile per indagare i contaminati metalli (Mercurio, Cromo, Piombo, Rame, ecc.) restituisce il dato in appena 30 secondi. Non sostituisce completamente le indagini tradizionali di laboratorio, ma permette di controllare innumerevoli punti potenzialmente contaminati in brevissimo tempo, con un notevole risparmio economico.